Přeskočit navigaci

Nový snímač umožňuje plně automatické měření drsnosti povrchu na souřadnicových měřicích strojích

Měření drsnosti plně integrované do procedur měření CMM.

25. července 2011

Sonda pro kontrolu drsnosti povrchu REVO® Společnost Renishaw doplnila do svého revolučního pětiosého měřicího systému REVO® novou volitelnou sondu, která poprvé umožňuje plné začlenění kontroly drsnosti povrchu do měřicích cyklů CMM.

S novým modulem SFP1 můžete měřit drsnost povrchu od 6,3 do 0,05 Ra. Díky této inovaci není nadále nutné používat přenosné drsnoměry nebo přenášet měřený kus na vyhrazená pracoviště pro měření drsnosti povrchu, což umožňuje zkrácení času pro kompletní inspekci měřeného dílu. Uživatelé CMM teď budou moci automaticky přepínat mezi skenováním dílu a měřením drsnosti povrchu, s celkovou analýzou obsaženou v jediném měřicím protokolu.

Vysoce kvalitní údaje o drsnosti povrchu

Díky tomu, že je sonda pro měření kvality povrchu SFP1 plně začleněna do systému pětiosého měření REVO, mohou její uživatelé těžit z řady výkonných funkcí, které zvýší rychlost kontroly i její flexibilitu.

Sonda zahrnuje i osu C, což v kombinaci s neomezenou možností polohování měřicí hlavice REVO a výběrem držáků doteku umožňuje automatickou orientaci hrotu sondy do libovolného úhlu odpovídajícího měřenému dílu, a zajišťuje tak maximální kvalitu získaných údajů o drsnosti povrchu. Sondu SFP1 dodáváme se dvěma speciálními držáky doteku, pro přímý dotek SFS-1 a pro zalomený dotek SFS-2, které se volí skompletním řízením měřicího programu apoužitím modulárního výměnného systému REVO (MRS). To umožňuje flexibilní přístup k prvkům komponent v kombinaci s důsledností metodologie pro plně automatické CNC měření.

Sonda na měření drsnosti povrchu SFP1 je sonda vybavená kuželovým diamantovým hrotem o rádiusu 2 μm (0,000079“) a poskytuje výstupy ve formátu Ra, RMS a nezpracovaných dat pro klientský software prostřednictvím softwaru Renishaw UCCServer používajícího protokol I++ DME. Nezpracovaná data je pak možné předat specializovanému softwaru pro analýzu povrchu pro vypracování podrobné analýzy.

Automatická kalibrace sondy pro měření drsnosti povrchu

Zalomený dotek měření drsnosti na kalibračním etalonu Kalibrace snímače je také plně automatická a provádí se v rámci softwarového programu pro CMM. Nový kalibrační etalon pro drsnost povrchu (SFA) se instaluje na zásobník MRS a měří se pomocí sondy SFP1. Software pak upraví parametry vsondě vsouladu skalibrovanou hodnotou uvedeného nástroje.

Další informace
Informujte se podrobněji o snímacích systémech a softwaru Renishaw pro CMM a nové podpoře pro modernizace CMM.

 

Materiály ke stažení

Na všechny obrázky a texty se vztahuje autorské právo společnosti Renishaw

Nové zprávy

Zaregistrujte se k pravidelnému odběru nových zpráv vydávaných společností Renishaw