SPM-Raman-System

Kombination von inVia Raman-Mikroskopen mit Rastersonden-Mikroskopen

Das inVia Raman-Mikroskop von Renishaw kann mit einer Vielzahl verschiedener Rastersonden-Mikroskope beispielsweise von Nanonics Imaging Ltd. kombiniert werden.

Diese kombinierten Geräte können mit vielen Rastersonden-Konfigurationen eingesetzt werden, sodass Anwender die unterschiedlichen Eigenschaften von Materialien im Submikrometerbereich untersuchen können.

Beispiele sind:

• AFM mit Fernfeld-Raman
  Rastersondendaten mit hoher räumlicher Auflösung in Verbindung mit schnellen Fernfeld-Raman-Daten (typischerweise Auflösung von 0,5 µm). Die Raman-Daten können aufgezeichnet und mit den räumlich hochauflösenden topografischen, elektrischen, thermischen und Nahfelddaten in Bezug gesetzt werden.
• Nahfeld-Raman ohne Öffnung
  Eine Spitze wird zur Verstärkung des Raman-Signals in einem stark begrenzten Bereich der Probe (innerhalb eines größeren, durch Laserlicht beleuchteten Bereichs) verwendet. Diese Technik bietet die hohe räumliche Auflösung der Nahfeld (NSOM)-Raman-Methode, jedoch mit höheren Signalstärken.
• Nahfeld-Raman (NSOM)
  Diese Technik verwendet eine Subwellenlängenöffnung (die Spitze einer spitz zulaufenden optischen Faser), um Laserlicht zur Probe zu leiten; hierdurch werden Raman-Daten mit hoher räumlicher Auflösung erhalten.