Apalpadores de escaneamento

Apalpadores de escaneamento também podem ser utilizados para adquirir pontos discretos, de maneira similar aos apalpadores por contato.

Várias soluções estão disponíveis, apropriadas para todos os tamanhos e configurações de CMMs.

Varredura explicado

O escaneamento permite a captura rápida de dados de formas e perfis, de peças prismáticas ou complexas.

Enquanto os apalpadores por contato coletam pontos discretos, os sistemas de escaneamento adquirem uma grande quantidade de dados da superfície, fornecendo uma imagem mais clara da forma da peça. Portanto, o escaneamento é ideal para medições em que a forma é um elemento importante na previsão geral de erro, ou onde devem ser inspecionadas superfícies complexas .

O escaneamento requer uma abordagem fundamentalmente diferente em relação ao projeto do sensor, comando da máquina e análise de dados.

Os apalpadores de escaneamento Renishaw caracterizam-se por inovadores mecanismos passivos e leves (sem motores ou mecanismos de travamento), que exibem alta frequência natural, tornando-os apropriados para escaneamento de alta velocidade. Sistemas de metrologia óptica isolada medem a deflexão das pontas diretamente (não através de eixos agrupados dentro do mecanismo do apalpador) para maior exatidão e rápida resposta dinâmica.

Como o sistema de escaneamento captura e analisa os dados da superfície?

O apalpador de escaneamento fornece uma saída de deflexão contínua, que pode ser combinada com a posição da máquina para determinar a localização da superfície. Ao medir por escaneamento, a extremidade da ponta do apalpador entra em contato com a superfície e coleta os dados ao mover-se sobre a mesma. Ao longo de toda a medição, é necessário manter a deflexão da ponta do apalpador dentro do seu campo de medição.

Para obter os melhores resultados, é necessária uma perfeita integração entre sensor e comando da máquina, bem como sofisticados algoritmos de filtração, para converter os dados resultantes em informação utilizável a respeito da superfície. Os algoritmos de escaneamento podem se adaptar aos contornos da peça, adequar a velocidade de escaneamento à taxa de curvatura (indo mais rápido em superfícies planas) e ajustar a taxa de captura de dados (obtendo mais dados onde a superfície se altera rapidamente).

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