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Systèmes Raman combinés

Couplez votre microscope confocal Raman inVia™ ou votre analyseur Raman Virsa™ de Renishaw à d’autres instruments d’analyse et bénéficiez de capacités d’imagerie multimodale. Les spectromètres Raman de Renishaw ont été combinés avec succès à un large éventail de techniques d’analyse, notamment la microscopie à force atomique (AFM) avec spectroscopie Raman exaltée en champ proche (TERS), la microscopie électronique à balayage (MEB), la microscopie d’imagerie en temps de vie de fluorescence (FLIM), la nanoindentation et la thermographie infrarouge (IR). Par ailleurs, les instruments Raman de Renishaw peuvent être configurés pour l’imagerie par photoluminescence (PL) et photocourant.

Pour un flux de travail efficace, vous pouvez analyser votre échantillon à l’aide de deux techniques de caractérisation ou plus sur un seul instrument intégré. Grâce aux systèmes de microscopie corrélative de Renishaw, vous avez la certitude d’analyser le même point avec plusieurs techniques. Découvrez ci-dessous quelques-uns de nos systèmes Raman combinés.

Déclenchement externe pour analyse Raman

Synchronisez et automatisez vos mesures Raman à l’aide d’un déclenchement externe. Découvrez comment un système Raman Renishaw peut s’interfacer avec du matériel ou des logiciels tiers.

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Labview mockup

Piégeage optique de microparticules

Le piégeage optique utilise la lumière pour retenir et manipuler les petites particules. Avec le microscope confocal Raman inVia™ Qontor, vous pouvez piéger les microparticules et les analyser à l’aide de mesures Raman ou de photoluminescence (PL).

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2 diagrams explaining optical trapping
Système hybride de microscope Raman inVia

Raman SPM/AFM

Vous pouvez combiner le microscope Raman inVia™ avec un large éventail de microscopes-sondes à balayage (SPM) et de microscopes à force atomique (AFM) pour obtenir des informations supplémentaires telles que les propriétés topographiques et mécaniques. Ajoutez la spectroscopie Raman exaltée en champ proche (TERS) pour une résolution chimique à l’échelle du nanomètre.

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Fluorescence lifetime imaging microscopy (FLIM)

Microscopie d’imagerie en temps de vie de fluorescence (FLIM)

La FLIM peut être intégrée à un microscope Raman inVia pour collecter une image spatiale montrant la durée de vie de la fluorescence d’un fluorophore. La FLIM est utilisée en biologie cellulaire pour la détection environnementale, le suivi des interactions moléculaires et l’identification des fluorophores.

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Photocurrent imaging

Imagerie à photocourant

Équipez votre microscope confocal Raman inVia pour cartographier les photocourants générés par la lumière laser incidente. La cartographie des photocourants des dispositifs photovoltaïques révèle les propriétés électroniques, optiques et de transport de charge du matériau.

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Photoluminescence

Photoluminescence

Utilisez la photoluminescence (PL) pour étudier les propriétés électroniques de matériaux. Vous pouvez configurer votre microscope inVia pour étudier les défauts cristallins ainsi que les lacunes et les substitutions atomiques. La PL est utile pour l’analyse de matériaux comme les photovoltaïques, les semi-conducteurs et les pierres précieuses.

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Nanoindentation


Nanoindentation

Associez les mesures de nanoindentation à la puissance du microscope Raman inVia et corrélez directement les propriétés mécaniques et tribologiques avec les informations chimiques telles que la cristallinité, le polymorphisme, la phase et les tensions.Plus d’infos
inLuxTM SEM Raman interface









Interface Raman-MEB inLux™

L’interface Raman-MEB inLux apporte une fonctionnalité Raman de haute qualité à votre chambre MEB. Vous pouvez désormais collecter des images Raman 2D et 3D tout en collectant simultanément des images MEB haute résolution.

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Medium wavelength infrared (MWIR) Raman thermography










Thermographie infrarouge à longueur d’onde moyenne (MWIR) Raman

L’analyseur Virsa peut être couplé par fibre à un microscope de mesure de température MWIR. Utilisez la thermographie Raman sur des appareils à semi-conducteurs pour déterminer la température locale avec une résolution spatiale latérale inférieure au micron.

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inVia custom solution










Autres solutions sur mesure

Si nos produits standard ne répondent pas exactement à vos besoins, notre équipe Produits spéciaux est spécialisée dans le développement de solutions sur mesure pour répondre à toutes les exigences. Explorez des exemples d’intégration Raman sur des lignes de faisceaux synchrotron et des environnements d’analyse courante d’assurance et de contrôle qualité.


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Livre électronique sur la spectroscopie : Les dernières avancées en matière d’imagerie Raman corrélative

La spectroscopie Raman est un domaine en pleine expansion, les spectromètres Raman modernes offrant aux laboratoires une plus grande facilité d’utilisation et une meilleure sensibilité. Découvrez comment combiner la spectroscopie Raman avec la microscopie électronique à balayage (MEB) ou la microscopie d’imagerie en temps de vie de fluorescence (FLIM), afin d’améliorer la technique pour diverses applications.

  • Développements de l’instrumentation Raman et innovations de la technologie Raman ;
  • Spectroscopie Raman sur site dans une chambre de MEB, et comment l’interface Raman-MEB inLux fournit des informations complémentaires pendant l’imagerie MEB ;
  • Microscopie corrélative FLIM et Raman, avec des exemples d’imagerie sur des coupes de tissus végétaux et des cellules HeLa.
Téléchargement du livre électronique sur la spectroscopie

Webinaire à la demande : Combinaison de la spectroscopie Raman avec d’autres techniques pour une science riche en données

La spectroscopie Raman est un des nombreux outils exigés pour relever des défis de recherche complexes. Renishaw a développé le microscope inVia pour que vous puissiez l’utiliser avec d’autres techniques, afin de collecter des données corrélées et d’obtenir une meilleure image de la science sur laquelle reposent vos échantillons. Ce webinaire présentera des données Raman recueillies en parallèle avec d’autres techniques telles que les mesures de photocourant, PL, MEB, AFM, les mesures de topographie et la diffusion Rayleigh.

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Votre représentant local répondra rapidement à votre demande.
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