アプリケーションノート: inVia™ Qontor® コンフォーカルラマン マイクロスコープを使用した二次元材料の分析 (pdf)
Tamaño del archivo: 488 kB
Idioma: 日本語
Nº de referencia: AN178(JP)-02-B
二次元材料には多くの固有特性が備わっているため、作業が難しい場合があります。レニショーの inVia Qontor コンフォーカルラマンマイクロス コープを使用すると、大きな領域や平坦でないサンプル、個々の小片にいたるまで、短時間で簡単に信頼性の高い結果を取得することができます。
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