Novedades: El láser de alineación XK10 aumenta la precisión de medición de paralelismo para fabricantes de Máquina-Herramienta (docx)

Bestandsgrootte: 50 kB Taal: Español

El nuevo kit de paralelismo XK de Renishaw es un innovador método de medición de paralelismo para el sistema láser de alineación XK10. Permite medir la desviación de rectitud de punto a punto o el desajuste angular total entre dos ejes nominalmente paralelos

Voor deze bestandssoort is een viewer nodig, die gratis verkrijgbaar is bij Microsoft

Niet gevonden wat u zocht?

Geef aan ons door wat u niet kon vinden, dan gaan wij ons best doen om u te helpen.