新聞稿: XK10 校準雷射系統幫助工具機製造商提高平行度量測精度 (docx)

Bestandsgrootte: 50 kB Taal: 中文(繁體)

Renishaw 推出全新 XK 平行度套件,提供了一種使用 XK10 校準雷射系統量測平行度的創新方法。用戶可以在兩個名義上平行的軸體之間量測點對點的真直度偏差,或兩個平行軸體之間的角度偏差。

Voor deze bestandssoort is een viewer nodig, die gratis verkrijgbaar is bij Microsoft

Niet gevonden wat u zocht?

Geef aan ons door wat u niet kon vinden, dan gaan wij ons best doen om u te helpen.