操作指南： XM-60 多光束校正儀 (pdf)

XM-60 為一種雷射量測系統，只需一次設定便能夠沿著線性軸同時量測六個自由度誤差。其強大的診斷功能，只需一次擷取，即可量測該軸的所有幾何誤差。 對於空間補償的使用者，XM-60 提供快速且精確數據。XM-60的所有量測都是以光學方式進行，可使用於任何方向。