應用要點： XK10 垂直度的詳述 (pdf)
Tamaño del archivo: 1,17 MB
Idioma: 中文（繁體）
Nº de referencia: H-9936-9100
XK10 校準雷射系統可量測機器的兩個標稱垂直軸之間的垂直度偏移量。本文旨在說明使用傳統方法及使用 XK10 系統在量測垂直度方面的差異。
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