RLD10 Differenzialinterferometer
Differenzialinterferometer erlauben Messungen gegen eine definierte Referenz.
Der Differenzialkopf verfügt über ein einzigartiges optisches Prinzip zur Gewährleistung eines geringen zyklischen Fehlers. Integrierte Strahlsteueroptiken ermöglichen eine Kipp- und Gierwinkelausrichtung während der Einrichtung, wodurch der Ausrichtvorgang verbessert wird (nur für Planspiegelanwendungen geeignet).
Der Detektorkopf RLD10-X3-DI wird an der Außenwand einer Prozesskammer mittels einfacher 3-Stift-Montage angebracht. Zur Ausrichtung des Detektorkopfes ist kein Zugang zu der Kammer nötig - integrierte Strahlsteueroptiken erlauben die unabhängige Kipp- und Gierwinkelausrichtung des Referenz- und Messstrahles - und dank der speziellen Konzeption des Montagesystems kann der Detektorkopf mit nur minimaler Auswirkung auf die Systemausrichtung entfernt und wieder befestigt werden.
Vorteile und Merkmale
- Herausragende Messleistung – Auflösung der Ausgabe bis 38,6 nm/m durch sehr gute Frequenzstabilität und extrem niedrigen zyklischen Fehler.
- Differenzielle Konfigurationen – Misst die relative Position des Tisches zur Säule und beseitigt dadurch Gleichtaktstörungen wie die Bewegung der Seitenwand der Kammer infolge von wechselnden Umgebungsbedingungen.
- Schnelle Ausrichtung – Einfache Ausrichtung außerhalb der Vakuumkammer mithilfe von vier integrierten Strahlsteueroptiken zum Ausgleich der Toleranzen bei der Kammer- und Spiegelmontage.
Spezifikationen
| Verfahrweg der Achsen | 0 m - 1 m |
| Auflösung (Auflösung mit RLU konfiguriert) | Analoges Rechtecksignal = λ/4 (158 nm) Digitales Rechtecksignal = 10 nm RPI20 Auflösung = 38,6 pm |
Nichtlinearitätsfehler des Systems* (SDE) *Interface ausgenommen | <±1 nm unter 50 mm/s mit >70% Signalstärke <±6 nm bei 1 m/s mit >50% Signalstärke |
| Höchstgeschwindigkeit | Bis zu 1 m/s |
RLU Lasereinheiten
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Zusätzliche Ressourcen
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Data sheet: RLD10 DI (differential interferometer) detector head [en]
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Data sheet: Low power RLD detector heads [en]
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News release: New differential measurement configuration for vacuum applications [en]
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Application note: Air turbulence effects on measurement stability of the differential interferometer [en]
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