傳單: SFP2 表面粗糙度測頭 (pdf)
Dateigröße: 384 kB
Sprache: 中文(繁體)
Artikel-Nr: H-1000-2232
SFP2 測頭可提升 REVO® 系統的表面粗糙度量測能力,其中具備多感測器功能,可為單一 CMM 提供接觸式高速掃描,以及非接觸式影像量測功能。
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