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適用於機器組裝的校準雷射

Renishaw 校準雷射系統提供單一數位解決方案,可在機器組裝期間量測及調整幾何與旋轉誤差,協助縮短機器組裝時間,並達到最理想的整體效能。

什麼是校準雷射?

校準雷射是一種精密工具,在工具機、精密工作台和半導體製造機器等工業設備的組裝和維修過程中,利用雷射精確對準零組件。校準雷射設計用於優化效能,可協助實現高精度量測、數位報告和即時軸向調整。

各界越來越需要以直覺操作的工具簡化機器校準流程,其效率已經超越許多傳統方法。

XK10 校準雷射系統提供數位精準度,適合用於校準線性及旋轉軸,是傳統手動方法的現代化升級選項。這樣可以大幅縮短機器組裝、維護及維修的時間。

XK20 校準雷射系統是第二代的校準雷射系統,專門設計用於簡化及加速機器組裝,並符合最新的 ISO 標準,有助於確保高精度、耐用度及減少人為錯誤。

為什麼要使用校準雷射?

確保精準度是工具機建造期間的重要關鍵,以確保工具機可靠高效。在組裝期間檢查校準情形,能避免在機器組裝完成後才發現誤差,導致問題更難以修正。定期校準檢查對現場服務、日常維護或撞機後也都很重要。

我們的校準雷射系統操作既快速又簡易,是取代傳統方法的多功能替代方案,例如量錶、自準直儀及量測標準件,可取代各種耗時程序。校準雷射可協助確保線性導軌筆直、方正、平整、平行且保持水平,還可用於評估旋轉機器的主軸方向及同軸度。

顯示單元會以數位方式記錄量測結果,提供全方位的誤差報告,並減少手動記錄造成的人為錯誤。

主要優點

使用簡單圖示

使用簡單

引導式逐步量測,可減少仰賴技術純熟的操作人員。

多方位功能圖示

多方位功能

可在安裝及自動化期間量測旋轉軸、主軸並提升精度。

即時讀數圖示

即時讀數

立即檢視即時讀數結果和動態圖表,協助高效校準及量測。

詳細結果圖示

詳細結果

CARTO 軟體 Explore 應用程式具備真直度及平行度分析功能,提供富有洞察力的可操作結果。

XK20 校準雷射系統

XK20 校準雷射系統簡介

設計符合國際標準

Renishaw 瞭解客戶越來越需要簡化機器組裝期間的量測作業,此外也希望降低前述量測所需的技能水準。我們運用 50 多年的工具機產業專業知識,打造先進的 XK20 校準雷射系統技術,協助因應現代機器製造商面臨的各種挑戰。

XK20 系統是第二代校準雷射系統,提供無可比擬的精度、效能及追溯性,同時遵循 ISO 精度與報告標準 230-11。Renishaw 創新的 CARTO XK20 應用程式包含遵循 ISO 10791 及 3070 標準的量測公差。

請聯絡我們預約安排示範

操作人員使用滑架上的 XK20 校準雷射系統

發射器單元

發射器單元是 XK20 系統的雷射參考。系統內建校準的五稜鏡、精準的旋轉頭及數位水平儀,為真直度、平行度、垂直度和平坦度量測提供穩定的參考標準。此外本系統也能用於調整機器和鑄件的水平狀態。

主要特色:

  • 精準的數位水平儀
  • 頭座可順暢旋轉 360 度
  • 可連續運作 12 小時以上
  • 可充電電池

移動單元(M 單元)

M 單元是 XK20 系統大部分量測作業的主要感測器。M 單元的運作原理類似於在欲量測的軸或滑架安裝傳統千分錶,檢測與雷射參考之間的差異,並傳送數位記錄至 CARTO XK20 應用程式進行分析。

主要特色:

  • 2 軸 PSD 感測器
  • 可無線連線 CARTO XK20 應用程式
  • 可連續運作 12 小時以上
  • 可充電電池
XK20 發射角度單元
M 單元 XK20 校準雷射

CARTO XK20 應用程式

CARTO XK20 應用程式以 Renishaw CARTO 校正軟體的優勢為基礎,提供依序操作且直覺的使用者體驗,協助技能純熟或不純熟的工具機製造商及組裝作業人員。

CARTO XK20 應用程式搭配使用 XK20 校準雷射系統,可協助加強掌控量測流程,加速組裝及校準大型及複雜的機器結構。應用程式整合執行量測的多項步驟,協助簡化使用者互動及提升產能,確保達到最高程度的精度及可追溯性。

行動應用程式

行動裝置顯示 CARTO XK20 應用程式的畫面

CARTO XK20 應用程式專為機器製造商所設計,是工廠環境的理想選擇。這款應用程式適用於 Android™ 裝置,可由作業人員輕鬆操作,實現最理想的量測及組裝流程。

內建引導說明

XK20 顯示單元顯示設定

XK20 校準雷射及 CARTO XK20 應用程式幾乎不需要對使用者進行訓練。不論是技能純熟或不純熟的使用者,都能利用應用程式內建指南,透過包含影像和圖示的逐步說明輕鬆上手。

輕鬆設定

作業人員使用 CARTO XK20 應用程式操作 XK20 校準雷射系統

利用雷射校準工件或機器是量測前的關鍵步驟,可能需要耗費不少時間,特別是在長距離情況下。CARTO XK20 應用程式可簡化此項作業,不但更加快速也易於操作使用。

資料分析

XK20 顯示單元顯示結果圖表

資料分析可依據使用者需求量身訂製,例如:

  • 依據客戶公差迅速檢視誤差圖表
  • 下載原始資料進行研發分析
  • 以各種 ISO 格式回報配置結果。

關鍵量測項目

XK20 校準雷射著重於建構中大型機器所需的關鍵量測項目,以確保組裝期間的幾何精度,滿足高度精準的目標。系統可精簡化真直度、平行度和垂直度的量測流程,前述量測項目可說是每台機器的必要基礎。使用者可從平行度及垂直度測試取得真直度結果,有效將兩項量測合而為一。

雖然花崗岩直邊、直角規及平行規等傳統工具仍有其應用價值,XK20 系統及 CARTO XK20 應用程式可讓前述量測作業輕鬆進行且不造成誤差,不論是技術純熟還是經驗不足的工具機製造商及組裝作業人員都適合操作。

平行度

XK20 校準雷射水平平行度設定

平行度是小型及大型機器的關鍵所在,可確保線性導軌與滑架之間保持平行,避免效能不彰。我們的平行度工具可及早在組裝期間檢測誤差。XK20 系統結合真直度與平行度量測,可節省時間並減少人為誤差風險。

關鍵的平行度量測項目:

  • 水平平行度
  • 垂直平行度
  • 垂直及水平平行度

真直度

XK20 校準雷射系統用於機器鑄件

XK20 校準雷射幾乎不需要訓練即可操作使用,其中提供直覺操作的軟體,引導使用者進行設定和量測流程。全新的長距離真直度功能(申請專利中),可在任何環境針對大型機器進行高精度及可再現的量測。

關鍵的真直度量測項目:

  • 機器底座/鑄件真直度
  • 滑架沿著導軌的真直度

垂直度

適用於機器組裝的校準雷射 - XK20

花崗岩塊是量測機器垂直度的傳統方法。不過可能因為太小而無法量測整個機器軸,或是因為太大而難以在生產現場四處移動。XK20 配備經校正的五稜鏡,不但提供豐富功能也易於操作使用,可量測大型和小型工具機。

垂直度模式:

  • 標準垂直度
  • 延伸垂直度
適用於機器組裝的校準雷射:利用 XK10 建立平行度量測

XK10 系統概述

XK10 發射器是大部分量測類型的主要雷射源,可搭配使用 M 單元進行長達 30 m 的幾何量測。S 單元及 M 單元皆包含發射器和接收器,可依據量測設定以不同方式配置。

XK10 工具機夾具套件專為提升量測重現性與精度而設計。量測是以 XK10 顯示單元進行及記錄,可在使用充電電池的情況下,隨處攜帶操作長達 30 小時。

CARTO Explore 的真直度及平行度分析功能可建立自訂報告,提供可靠結果協助檢查及修正機器校準。

Renishaw 經驗豐富的工程師可提供校正培訓,確保最佳產品效能。

XK10 校準雷射用於機器鑄件
XK10 校準雷射系統顯示單元

主要特色

靈活性 - 單一套件提供多種量測,適用於不同的機器配置。

自動分析 - 立即提供量測結果,以即時顯示協助調整,並可輕鬆匯出為 .xml 檔案或 CARTO。

直覺化軟體 - 引導您輕鬆、快速地完成設定和量測流程。請上校正軟體下載取得最新版本。

無線連接 - 確保設定和量測靈活性。

輕鬆夾持 - 設計提供可重現的準確結果,並縮短架設時間。

旋轉頭 - 可從發射單元輕易進行光束指向,能夠使用一連串網格點量測平坦度。

XK10 校準雷射配件

歡迎瀏覽我們一系列的安裝配件及替換零件。

線上購買

XK 平行度套件

XK 平行度套件是用於執行平行度量測的額外套件。此套件可量測兩個名義上平行軸的真直度,而無需移動發射器。

精確 - 90° 轉向雷射光束。提供各種調整方式,可輕鬆對準。

選用的三腳架安裝配件,可讓使用者在沒有空間直接安裝發射器時,搭配三腳架使用。

真直度量測

以 XK10 校準雷射系統沿著軸向量測垂直及水平真直度。

於機器組裝期間使用,以確保導軌和床台的組裝精度。

主軸方向量測

XK10 量測主軸或夾頭指向的角度。

這可以用於任何主軸或夾頭校準,以確保在完整的 360° 旋轉皆指向同一方向。

事實證明,Renishaw XK10 校準雷射系統已成為我們在製造過程中無可取代的量測和組裝工具。XK10 精巧的設計和靈活的夾具組件使其適合應用在全系列 Mazak 機台上,同時避免了在量測時頻繁地拆卸夾具。

最重要的是,XK10 的參考固定座讓我們在機器尚未安裝線軌之前,就能精確蒐集並記錄線軌安裝基準面的幾何量測誤差。這不僅減少了評估時間,還可以使我們更深入地瞭解了各種關鍵資料,進一步提高量測重複性和精度。

Mazak Europe,英國

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Renishaw 經驗豐富的工程師可提供校正培訓,確保最佳產品效能。探索我們專為提升精密運動系統效能所設計的機台校正與最佳化產品。

常見問題集

XK10 及 XK20 系統的光束量測範圍為何?

XK20 發射器單元搭配使用 M 單元最長可量測 40 公尺。如果 M 單元及 S 單元用於不同配置,最長可量測 20 m。

XK10 發射器單元搭配使用 M 單元可量測最長 30 m。如果 M 單元及 S 單元用於不同配置,最長可量測 20 m。

校準雷射系統建議的重新校正排程為何?

XK10 及 XK20 校準雷射若於「正常」環境中使用,建議的重新校正期間為兩年。詳細資訊請參閱我們的校正服務、維修與重新校正網頁。

附加資源