Interface inLux™ MEV Raman
Uma solução universal para análise in situ MEV Raman
A inovadora interface inLux™ MEV Raman traz a funcionalidade Raman de alta qualidade para sua câmara do microscópio eletrônico de varredura (MEV). Agora você pode coletar espectros Raman que podem produzir imagens em 2D e 3D enquanto simultaneamente cria imagens em MEV. A amostra permanece estática entre a imagem MEV e os modos de coleta de dados Raman, para que você possa confiar na co-localização precisa ao comparar imagens Raman e imagens MEV.
A interface inLux oferece uma ampla gama de recursos Raman. Você pode coletar espectros de pontos únicos, vários pontos ou gerar imagens Raman confocais 2D e 3D. A interface inLux vem totalmente equipada para todo esse trabalho como padrão, permitindo analisar áreas maiores que 0,5 mm em cada eixo. Ela possui controle de posição totalmente codificado, até 50 nm, garantindo imagens Raman precisas.
Principais vantagens
- Rica em informações - Raman, fotoluminescência (PL) e análise de catodoluminescência espectral (CL) são realizadas simultaneamente e co-localizadas com imagens MEV.
- Universal - A interface inLux pode ser montada em uma ampla variedade de MEVs de diferentes fabricantes, com diferentes tamanhos de câmara e sem nenhuma modificação do MEV.
- Não invasiva - A sonda inLux pode ser totalmente retraída com um único clique. Isso garante que a sonda não interfira em outras funções ou fluxos de trabalho do MEV quando não estiver em uso.
- Determinação da distribuição - As imagens confocais Raman podem ser produzidas como padrão, permitindo assim uma medição fácil da heterogeneidade da amostra.
- Visualização da amostra - Imagens ópticas de grande área e montagem para visualizar sua amostra e direcionar áreas de interesse.
- Configurável - Até dois comprimentos de onda laser diferentes, além de um módulo CL opcional.
- Automática - Comutação de comprimentos de onda do laser com um clique para análise Raman de amostras difíceis.
Aplicações da interface inLux
Identificando contaminantes
A espectroscopia Raman é uma técnica sem contato e não destrutiva que pode fornecer informações químicas altamente específicas, tornando-a ideal para identificar contaminantes. A espectroscopia Raman é particularmente poderosa para analisar carbono e contaminantes orgânicos que seriam difíceis de diferenciar usando análise elementar. Um MEV pode ser usado para localizar e estudar a morfologia de pequenas partículas contaminantes que não podem ser resolvidas por microscopia óptica. Em seguida, essas partículas podem ser direcionadas diretamente para análise Raman usando a interface inLux, sem precisar mover a amostra.
Análise de materiais
Muitas das novas propriedades exibidas pelos materiais surgem de seu tamanho, forma ou espessura. Grafeno, nanobastões e nanotubos são exemplos de onde a grande ampliação da microscopia eletrônica de varredura é vital para a visualização da amostra. Além de revelar a natureza química e estrutural do material, a análise Raman também pode fornecer informações sobre propriedades físicas. A interface inLux pode produzir imagens Raman que ilustram cristalinidade, tensão e propriedades eletrônicas que podem ser correlacionadas com as do MEV.
Conexão com diferentes sistemas Renishaw Raman
A interface inLux é usada em conjunto com os espectrômetros e software Raman de pesquisa da Renishaw. Isso proporciona recursos abrangentes de processamento e análise, sendo intuitivamente simples de usar. Da identificação de contaminação industrial à pesquisa acadêmica; a interface inLux pode ajudá-lo a obter o máximo do seu MEV.
Analisador Virsa™ Raman
Para análise Raman dedicada, a interface inLux pode ser conectada ao analisador Virsa Raman. O analisador Virsa oferece uma solução compacta e econômica para análise em MEV Raman, com a alta sensibilidade e resolução espectral esperada de um sistema Raman de pesquisa em um corpo montado em magazine.
Saiba mais sobre o analisador Virsa
Microscópio Raman confocal inVia™
Conecte a interface inLux ao microscópio confocal Raman inVia para adicionar análise em MEV ao microscópio Raman de pesquisa mais vendido do mundo. O microscópio inVia oferece desempenho e sensibilidade líderes mundiais em uma faixa configurável de comprimentos de onda laser, detectores e grades. É ideal para analisar qualquer material ativo Raman. O microscópio inVia pode ser usado de forma independente para análise Raman. Seu MEV pode então estar disponível para outros usuários quando as medições in situ não forem necessárias.
Saiba mais sobre o microscópio inVia RamanSaiba mais
Conte-nos sobre sua configuração MEV para saber se seu microscópio eletrônico de varredura é compatível com a interface inLux MEV Raman. Preencha o pequeno formulário seguindo o link abaixo e um de nossos especialistas entrará em contato.
Cadastre-se agora para assistir ao webinar completo sob demanda
Downloads: Interface inLux MEV Raman
-
Brochure: inLux™ scanning electron microscope Raman interface [en]
The innovative inLux SEM Raman interface brings high-quality Raman functionality to your SEM chamber. Now you can collect Raman spectra that can produce images in 2D and 3D whilst simultaneously imaging in SEM.
Especificações
| Parâmetros | Valor |
| Massa | < 20 kg |
| Comprimento do cabo de fibra óptica | 4,6 m |
| Espectrômetros Raman compatíveis | Microscópio confocal Raman Renishaw inVia, analisador Renishaw Virsa |
| Modelos MEV compatíveis | Compatível com modelos de todos os principais fornecedores de MEV |
| Requisito da porta MEV | Requer porta lateral ou traseira MEV livre |
| Desempenho MEV | A interface inLux não requer nenhuma modificação do MEV e pode ser totalmente retraída quando não estiver em uso, para não interferir no desempenho do MEV ou de outros acessórios |
| Controle de movimentos | Trackpad, software WiRE |
| Proteção do contato | Sensor de toque, espaço de trabalho seguro monitorado usando encoders absolutos |
| Segurança laser | Laser intertravado ao vácuo da câmara |
| Mapeamento/Imagens Raman | Fornecido como padrão |
| Seleção do módulo de fibra óptica | Até dois comprimentos de onda laser diferentes + módulo de catodoluminescência opcional |
| Comprimentos de onda laser disponíveis | 405 nm, 532 nm, 660 nm, 785 nm (outros disponíveis mediante solicitação) |
| Comutação laser | Automático, motorizado e controlado por software |
| Resolução espacial lateral | < 1 µm @ 532 nm |
| Desempenho confocal | < 6 µm @ 532 nm |
| Resolução espectral | Veja especificações do espectrômetro |
| Dimensões | L 804 mm x A 257 mm x P 215 mm |