傳單： SFP2 表面粗糙度測頭 (pdf)

Taille du fichier: 384 Ko Langue: 中文（繁體） Référence: H-1000-2232

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SFP2 測頭可提升 REVO® 系統的表面粗糙度量測能力，其中具備多感測器功能，可為單一 CMM 提供接觸式高速掃描，以及非接觸式影像量測功能。

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