技术说明： 雷尼绍测头测量技术和采用应变片技术的全新OMP400超紧凑测头 (pdf)

自1972年David McMurtry爵士发明触发式测头以来，测头测量已然成为机床自动化生产过程的重要组成部分。这种简单的测头机械传感机构采用机械式结构来固定测针并可确保高重复性，三十多年来构成了许多雷尼绍测头的基础。雷尼绍的机械式触发测头不断为制造行业提供优质服务，至今仍是市场上畅销的测头测量产品，也是广大最终用户和机床制造商等的首选产品。这些测头的测量性能和可靠性不容低估。