個案研究： XL-80 鐳射干涉儀為線紋尺量測系統 提供精準可靠的位置補償 (pdf)

線紋尺（Line scale）一般是由玻璃基材製成並且在其表面 準確地刻有等間距平行線，通常配置於比長儀、顯微鏡、測量儀器等長度測量設備上，作為測量距離和行程準確性的重要參考基準。測量線紋尺上的刻度距離意味著需要精度更高的儀器，測量解析度往往要求達到奈米級，微小的環境因素所造成的誤差都會影響測量結果的準確性。附屬於香港創新科技局的標準及校正實驗所（SCL）設計並建立了一台全新的線紋尺量測系統，採用 Renishaw XL-80 鐳射干涉儀，補償測量過程中因測量機台架設的位置偏移所導致的誤差。