StreamLine™ 슬라롬
라만 기술로 전체 표면 분석
StreamLine의 슬라롬 모드를 통해 분석 대상으로 정의한 전체 영역에서 데이터를 수집할 수 있습니다. 다른 기술로는 놓칠 수 있는 미립자 등의 작은 형체도 확인할 수 있습니다.
슬라롬은 과소 샘플링 문제에 대한 효과적인 해결책을 제시합니다.
과소 샘플링
조사점 크기와 단계 크기 사이 관계는 샘플링에서 매우 중요한 측면입니다.
두 가지가 동일할 때 최적 샘플링이 진행됩니다. 중첩 현상없이 전체 면적이 포함됩니다.
단계 크기가 레이저 조사점 크기보다 클 때 과소 샘플링이 일어납니다. 이러한 경우에 매핑 속도는 빨라지지만 샘플의 일부 영역이 분석되지 않는 문제가 발생합니다.
그러므로 다음 항목 사이에 적당한 절충이 있습니다.
- 총 매핑 시간
- 단계 크기
- 분석 대상 영역(또는 체적)
슬라롬
과소 샘플링은 넓은 영역을 가장 빠르게 분석하는 방법이지만 작고 중요한 형체를 놓칠 수 있습니다.
슬라롬은 StreamLine의 레이저 광선을 지그재그형으로 진행시켜서 실험 시간을 단축하면서 전체 표면이 샘플링될 수 있도록 해줍니다. 이러한 방식으로 과소 샘플링 문제에 대한 효과적인 해결책을 제공합니다.
두 분야 모두에 최상의 기술
대부분의 라만 영상은 단계 크기와 동일한 크기의 영역을 표시하기 위해 나타나는 각 픽셀로 구성됩니다. 과소 샘플링할 경우, 픽셀이 정확히 분석 영역의 크기이므로 공백이 많은 영상이 생성됩니다. 미립자와 정의역이 충분히 크다면 심하게 구별되지 않습니다. 그러나 반정량(semi-quantitative) 정보를 판정하려는 경우 대표성이나 정확도가 훨씬 떨어지는 결과가 생성되므로 중요해집니다.
StreamLine의 슬라롬 모드는 두 분야 모두에 최상의 성능을 제공합니다. 신속한 매핑과 동시에 전체 매핑 대상 영역을 정확히 나타내는 데이터임을 확신할 수 있습니다.
Renishaw의 다방면 혁신 기술은 특허권으로 보호됩니다.