Microscopio confocal Raman inVia™
El microscopio Raman confocal de grado de investigación definitivo ofrece los mejores datos en el menor tiempo posible.
Es simple de usar, pero ofrece un rendimiento excepcional y unos resultados fiables, incluso en los experimentos más difíciles. Con él, puede generar tanto imágenes químicas ricas y detalladas como datos muy específicos de puntos discretos. Con una flexibilidad sin precedentes, los científicos e ingenieros de todo el mundo, confían en el microscopio inVia.
Características
El microscopio inVia está compuesto por un microscopio de grado de investigación acoplado a un espectrómetro Raman de alto rendimiento. Es simple de usar, sin embargo, ofrece rendimientos excepcionales: un alto aprovechamiento de la señal combinado con una alta resolución espectral y estabilidad que proporcionan resultados fiables, incluso para las mediciones más desafiantes.
El diseño óptico altamente eficiente del microscopio inVia proporciona los mejores datos Raman, incluso en diminutas trazas de material. Si necesita producir fácilmente y de manera fiable tanto imágenes químicas ricas y detalladas como datos altamente específicos a partir de puntos discretos, entonces el microscopio inVia es el sistema ideal para usted.
Para obtener información más detallada, descargue el folleto del microscopio inVia.
Velocidad y sensibilidad
Un dispositivo Raman de alta sensibilidad permite examinar señales Raman débiles, analizar rápidamente trazas diminutas de materiales, monocapa y dispersores débiles. Un diseño óptico estigmatizado sobre el eje, que proporciona una alta eficiencia óptica, un excelente rechazo de la luz parásita y una sensibilidad sin precedentes.
Alta resolución espacial
El diseño óptico permite alcanzar un nivel muy alto de confocalidad (capacidad de rechazar la señal de las regiones alejadas del punto de interés). Esto permite alcanzar gran estabilidad y las más altas resoluciones espaciales posibles, limitado solo por el nivel de difracción inherente de la luz.
Alto rendimiento espectral
Puede para resolver características espectrales inferiores a 0,5 cm-1, por lo que puede distinguir entre bandas Raman cercanas y diferenciar materiales muy similares, como polimorfos farmacéuticos. La alta estabilidad permite observar los diminutos cambios de posición de la banda Raman (de solo 0,02 cm-1).
Estabilidad excepcional
La placa base con diseño de panal a medida mantiene el microscopio inVia y los láseres en su posición con precisión, y es tan estable que una mesa óptica o antivibratoria no suele ser necesaria. Los principales componentes móviles están equipados con encóderes de alta precisión Renishaw, para asegurar que todo esté correctamente colocado.
Flexibilidad espectral
Puede configurar el microscopio inVia de forma que se adapte perfectamente para analizar sus muestras específicas. Admite múltiples láseres con posibilidad de un intercambio automático entre ellos controlado por ordenador. Puede cambiar la longitud de onda de excitación rápidamente y de manera fiable, y determinar las mejores configuraciones para obtener datos excepcionales de todas las muestras.
Flexibilidad de muestreo
inVia es compatible con microscopios de grado de investigación de bastidor vertical, invertido y abierto, así como con sondas de fibra óptica para el análisis remoto a larga distancia. Es compatible con una serie de lentes de objetivo y células ambientales que permiten analizar las muestras en distintas condiciones del entorno.
Opciones adicionales
inVia™ InSpect
Hemos optimizado nuestro galardonado microscopio Raman para uso en laboratorios forenses. El microscopio inVia InSpect cuenta con las herramientas necesarias para análisis químico no destructivo.
Sistemas Raman combinados
Combine dos o más técnicas analíticas in situ en el microscopio Raman con otros dispositivos analíticos complementarios.
Soluciones Raman a medida
Nuestro ampliamente experimentado Equipo de Productos Especiales puede desarrollar una solución a medida que cumpla con sus requisitos específicos.
Aplicaciones
Investigación farmacéutica
Con varios componentes y propiedades, averiguar la composición, el tamaño de dominio y la distribución de las fórmulas de patente caducada disponibles comercialmente es una posibilidad muy atractiva. El microscopio inVia proporciona una especificidad química y una sensibilidad increíbles, y genera imágenes químicas detalladas de una amplia gama de fórmulas.
Estudio de polímeros
El microscopio inVia proporciona una especificidad química y una sensibilidad de forma no destructiva, sin necesidad de preparación y manipulación de las muestras. Es importante en el estudio de polímeros, ya que se investigan materiales nuevos y se mejora la efectividad de otros existentes, y se reduce el coste de los productos.
Mantenga el enfoque en tiempo real con LiveTrack
El microscopio inVia utiliza la tecnología de seguimiento de enfoque automático LiveTrack™ para obtener en tiempo real espectros precisos y repetibles, y la topografía de muestras con amplias variaciones de altura. Cree impresionantes imágenes 3D en muestras desiguales, curvadas o rugosas sin necesidad de repetir el escaneado. Vea los ejemplos en el vídeo.
Analice fácilmente muestras de líquido o gas con el kit de muestreo macro
El kit de muestreo macro permite analizar fácilmente muestras de líquido o gas en viales y cubetas. Se instala en segundos y le ayuda a realizar rápidamente los análisis Raman.
¿Desea más información?
Su representante local estará encantado de ayudarle con su consulta.
Puede contactar con él completando un formulario o enviándole un correo electrónico.
Obtenga las últimas actualizaciones
Manténgase al día de nuestras últimas noticias, seminarios web, aplicaciones y lanzamiento de productos, y reciba actualizaciones directamente en su bandeja de entrada.
Descargas: microscopio Raman inVia
-
Folleto: Microscopio Raman inVia™ confocal
Renishaw inVia: El microscopio Raman de alto rendimiento más vendido en el mundo
-
Product note: Centrus detector [en]
At the heart of Renishaw’s Raman systems, Centrus is more than just a detector; it is key to the implementation of advanced Renishaw technologies
-
Product note: inVia excitation wavelength options [en]
inVia™ Raman microscope: choosing filter and wavelength options
-
Technical note: Polarised Raman spectroscopy using the inVia Raman microscope [en]
This note demonstrates that the inVia confocal Raman microscope is an ideal tool for polarisation studies.
-
Product note: Free-space microscopes [en]
Renishaw’s free-space microscopes (FSMs) have a large clearance for oversized samples. FSMs can be configured with the full capabilities of an inVia™ Qontor® confocal Raman microscope, bringing complete automation and LiveTrack™ focus-tracking technology to large and heavy samples.
-
Product note: MS30 high speed encoded stage [en]
The MS30 high speed encoded stage is a high performance, optically encoded, motorised sample stage for use with Renishaw’s Raman systems.
-
Product note: Inverted microscopes for inVia [en]
Renishaw's inVia Raman spectrometers can be equipped with inverted microscopes instead of, or in addition to, the standard upright microscopes.
-
Technical note: LiveTrack focus-tracking technology [en]
LiveTrack focus-tracking technology maintains optimum focus for both white light and Raman imaging to give stunning 3D images.
-
Product note: Rayleigh imaging using the inVia™ confocal Raman microscope [en]
Product note detailing how you can perform Rayleigh imaging on the inVia confocal Raman microscope.
-
Product note: Optical tweezing on the inVia™ Qontor® Raman microscope [en]
The inVia Qontor Raman microscope is available with optical tweezing. The microscope focuses the laser to the same point as the Raman laser, so you can both trap microparticles and analyse them using Raman or photoluminescence.
Especificaciones
El microscopio inVia está disponible en tres modelos para satisfacer sus necesidades: desde nuestro buque insignia, el sistema inVia Qontor, totalmente automático y con tecnología de seguimiento de enfoque, al sistema básico inVia Basis.Parámetro | Valor | |
Rango de longitud de onda | De 200 a 2200 nm | |
Láseres compatibles | De 229 a 1064 nm. | |
Resolución espectral | 0,3 cm-1 (FWHM) | Mayor resolución necesaria típicamente: 1 cm-1 |
Estabilidad | < ±0,01 cm-1 | Variación de la frecuencia central de la banda ajustada de 520 cm-1 del Si mediante medidas repetitivas. Se obtiene con una resolución espectral de 1 cm-1 o mayor |
Corte inferior de número de onda | 5 cm-1 | Menor resolución necesaria típicamente: 100 cm-1 |
Corte superior de número de onda | 30.000 cm-1 | Estándar: 4.000 cm-1 |
Resolución espacial (lateral) | 0,25 µm | Estándar: 1 µm |
Resolución espacial (axial) | < 1 µm | Estándar: < 2 µm. Dependiendo del objetivo y del láser |
Tamaño de detector (estándar) | 1024 × 256 píxeles | Existen otras opciones disponibles |
Temperatura de funcionamiento del detector | -70 °C | |
Compatibilidad con filtros Rayleigh | Ilimitado | Hasta cuatro juegos de filtros en montaje automático. Juegos de filtros adicionales ilimitados compatibles con montaje de colocación precisa intercambiable por el usuario. |
Número de láseres soportado | Ilimitado | Uno de serie. Más de 4 láseres adicionales requieren montaje en una mesa óptica |
Controlado por PC con Windows | Última especificación de PC con Windows® | Incluye estación de trabajo PC, monitor, teclado y trackball |
Tensión de suministro | 110 V CA a 240 V CA +10 % -15 % | |
Frecuencia de red | 50 Hz o 60 Hz | |
Consumo típico de potencia (espectrómetro) | 150 W | |
Profundidad (sistemas de dos láseres) | 930 mm | Base para dos láseres |
Profundidad (sistemas de tres láseres) | 1116 mm | Base para tres láseres |
Profundidad (compacto) | 610 mm | Hasta tres láseres (dependiendo del tipo de láser) |
Peso típico (sin láseres) | 90 kg |
Visualización de muestras | inVia Basis | inVia Reflex | inVia Qontor |
Visión estereoscópica (oculares binoculares) | ■ | ▲ | ▲ |
Visión tras la recogida de datos, memorizada y automática | - | ▲ | ▲ |
Control del microscopio mediante software | - | ▲ | ▲ |
Cambio automático Raman/luz blanca | - | ▲ | ▲ |
Guardado automático, con datos, en el modo de luz blanca | - | ▲ | ▲ |
Visión de vídeo combinada de los modos láser y de luz blanca | - | ▲ | ▲ |
Autoenfoque con luz blanca (LiveTrack) | - | - | ▲ |
Recogida de datos Raman | inVia Basis | inVia Reflex | inVia Qontor |
Medición automatizada de datos en cola | ▲ | ▲ | ▲ |
Seguimiento de enfoque automático (LiveTrack) | - | - | ▲ |
Comprobación de alineación y rendimiento | inVia Basis | inVia Reflex | inVia Qontor |
Fuente interna de neón de calibración de longitud de onda | - | ▲ | ▲ |
Patrones de referencia internos de autocalibración | - | ▲ | ▲ |
Corrección automática de calibración Raman (calibración rápida) | ▲ | ▲ | ▲ |
Autoalineación del láser | ▲ | ▲ | ▲ |
Autoalineación de la señal Raman | ▲ | ▲ | ▲ |
Comprobación de rendimiento | - | ▲ | ▲ |
Clave
- no disponible | ■ opcional | ▲ incluida |