Hybrid-Raman-Systeme
Steigern Sie die Leistung Ihres Renishaw Raman-Mikroskops, indem Sie es mit anderen Analysesystemen verschiedenster Hersteller kombinieren.
Mit den korrelativen Mikroskopsystemen von Renishaw können Sie sicher sein, dass dieselbe Probenregion mit beiden Verfahren analysiert wird.
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SPM/AFM: Nanometer-Auflösung
Kombinieren Sie das inVia™ Raman-Mikroskop mit einem Rastersondenmikroskop (SPM), wie zum Beispiel einem Rasterkraftmikroskop (AFM), um die chemischen Eigenschaften und Struktur von Werkstoffen zu untersuchen. Erweitern Sie mit spitzenverstärkter Raman-Spektroskopie (TERS) die chemische Auflösung im Nanometerbereich und erhalten Sie zusätzliche Einblicke, beispielsweise über mechanische Eigenschaften.
Nanoindentierung: Bestimmung von mechanischen Eigenschaften
Kombinieren Sie die Leistungsfähigkeit des inVia Raman-Mikroskops mit Nanohärtemessungen und korrelieren Sie mechanische, tribologische Eigenschaften und chemische Informationen, wie Kristallinität, Polymorphismus, phasenspezifische Eigen- und Lastspannung, direkt miteinander.
Lesen Sie einen Artikel aus dem Microscopy and Analysis Journal
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Correlative SPM Raman and SEM analysis of biomedical devices and coatings [en]
A variety of medical implants and microelectrode arrays for electrophysiology are fabricated in thin film and micro technology. To guarantee the quality, proper functionality and safe operation of these devices, analytical techniques to investigate the structure and chemical composition of surfaces and interfaces during the fabrication process and for final quality control are essential.
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