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拉曼 SPM/AFM 組合型系統

您可以結合 inVia 功能與掃描測頭顯微鏡 (SPM 和 AFM),以調查奈米級材料成分、結構和特性。

選擇最佳系統

inVia 具備驚人靈活性,Renishaw 可將其直接耦合至各種廠牌的 AFM 和 SPM,例如:

  • Bruker Nano Surfaces
  • Nanonics
  • NT-MDT
  • JPK
  • Park
  • Nanosurf

選擇最符合需求的 SPM/AFM。

TERS:針尖增強拉曼散射

特定 inVia-AFM 系統可執行針尖增強拉曼散射 (TERS)。此驚人技術使用尖銳的電漿子針尖,取得奈米級化學資訊。

TERS 對應補足了 StreamLine™StreamHR™,提供絕佳靈活性,讓您以任何解析度研究樣品。

最大效率

Renishaw 專門設計的靈活耦合臂可用來將 inVia 光學整合至 SPM/AFM。以反射鏡引導光線,相較於光纖耦合,效率更高。您可以更快取得光譜,並擁有更高的訊噪比。

校準十分簡單。所有組合型系統都提供附白光照明的內建視訊,因此您可清楚看到測頭端部與拉曼雷射光點 - TERS 工作的關鍵點。

同一位置、同一時間

您可以完全信賴資料。您可以從樣品的同一點同步擷取拉曼和 AFM 資料,無須移動樣品。即使樣品隨時間變化,仍可確保資料一致性。

單一組合型系統

共位分析;無須將樣品移至不同系統,然後在大費周章地努力尋找相同興趣點。

兩名使用者可獨立同步操作 inVia 和 SPM/AFM,完全不會影響彼此效能。您有拉曼系統、SPM/AFM 系統和組合型拉曼 SPM/AFM 系統。

選擇最佳系統

Renishaw 的 SPM 專家樂意與您討論具體需求,並提供建議,以便用最好的方式將 inVia 整合至選定的 SPM/AFM 系統。請聯絡我們,探索此技術如何讓您進一步瞭解奈米尺度。

下載:拉曼 SPM/AFM

影像圖庫

深入瞭解

最新的 SPM/AFM 使用案例

美國陸軍研究試驗所結合拉曼與 AFM

位在美國馬里蘭州的美國陸軍研究試驗所 (ARL) 透過由 Renishaw inVia 共軛焦拉曼顯微鏡與 Bruker Dimension Icon 原子力顯微鏡 (AFM) 所組成的混合儀器,正在研究電磁能儲存材料。

Renishaw 的 inVia 共軛焦拉曼顯微鏡連接到 Bruker 的 Dimension Icon AFM

Renishaw 是一家經驗豐富的整合式拉曼 AFM 解決方案供應商,已有超過 16 年的供貨經驗。最新加入儀器系列的支援產品為 Bruker 的 Dimension Icon AFM。新增的配對展現出 Renishaw inVia 共軛焦顯微鏡極大的靈活性,還有能力搭配各種運用許多分析技術的儀器。