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雷射尺

Renishaw 雷射光學尺系統專為進階運動控制設計,適用於需要在多個自由度達到高精度的應用項目

我們的 RLE 系統可於進階工程環境提供高效能的位置量測解決方案。我們的雷射光學尺以數十年的創新成果為基礎,提供強大的解決方案,可在各種應用精準地量測位置。

我們的系統深獲全球領導廠商信賴肯定,涵蓋半導體製造、同步加速器研究及航太加工等領域,能夠提供所需的精度及穩定性,滿足最嚴苛的規格。

請選擇我們的雷射光學尺及配件,擴展您的能力

位在底座上的 RLE 及 RLD 雷射光學尺
用於晶圓檢測的 RLE 雷射干涉儀
位在機床配置上執行測試的 RLE 光學尺系統

RLE 雷射光學尺為獨特先進的零差雷射干涉儀系統,專為位置回饋應用所設計。

RLE10 及 RLE20 雷射

多軸觀測鏡可利用三個 DI 干涉儀頭在 XY 雙軸平台應用中進行六個自由度量測。

多軸觀測鏡

HS20 雷射光學尺系統結合雷射干涉儀的極致精度,以及加工廠應用惡劣環境所需的堅固性。

HS20 長距離雷射

干涉雷射產品的技術支援資料庫

輕鬆取得雷射光學尺產品的指南、支援文件及下載。

支援資料庫

什麼是雷射光學尺?

雷射光學尺是一種位移量測系統,利用雷射干涉量測法極度精準地判定位置。這類系統適用於必須達到奈米級精度、系統彈性及環境抵抗能力的應用項目。

Renishaw 結合位移干涉儀的極致效能,以及傳統光學尺易於安裝的優點。我們在其中獲得豐富經驗,瞭解如何滿足不同客戶應用中 XY 雙軸平台的運動控制及精準定位需求,涵蓋半導體、航太、精密製造及研究部門等各種領域。

雷射光學尺說明

我們致力於簡化雷射光學尺干涉量測,不過也瞭解選擇雷射光學尺系統相當複雜。我們提供各種寶貴資訊,協助您了解本公司產品的運作基礎,以及如何協助您改善製程。

歡迎探索雷射光學尺說明,以更充分瞭解 RLE 系統如何以獲得專利的「遠端」雷射光源提供更出色的量測功能。

RLD10 差分干涉儀

為什麼選擇 Renishaw 雷射光學尺?

Renishaw 雷射光學尺可支援各種產業的複雜運動系統。

雷射光學尺提供具備高解析度與低週期誤差的線性位置量測功能,不但具備位移干涉儀的量測效能,同時也兼具傳統鋼帶或玻璃編碼器易於使用及安裝的優點。

高精度圖示
校準目標圖示
以中央 3 點標靶展現重複性的圖示

高精度

Renishaw 光學尺採用創新設計,並運用進階技術盡可能減少誤差。這代表使用者能夠享有卓越的精度和高解析度。

輕鬆設定

RLE 及 HS20 雷射光學尺具備強大、直覺且易於操作的校準功能,能夠輕鬆快速地進行設定,協助節省寶貴時間。

重現性高

Renishaw 雷射光學尺系統提供卓越的波長穩定性,確保在每種應用都能達到一致的量測精度。

RLE 安裝與對齊

安裝和應用支援

Renishaw 將在現場提供服務及支援,不論您及客戶身在何處都沒問題。我們將努力確保提供您所需的一切。

我們的當地團隊提供:

  • 銷售及售後服務
  • 訓練及技術支援
  • 備件及維修服務

我們了解每項編碼器安裝作業都不一樣。因此我們提供客製化的檢測頭,因應設備製造商客戶的特定需求。

品質與符合性

您從 Renishaw 購買干涉雷射光學尺及其配件,就代表購買深獲肯定的品質保證。

確保客戶信心需要具備品質保證,以及可靠的可追溯記錄。因此我們透過國家標準實驗室驗證所有校正產品。這樣可讓您充滿信心,提供有效文件證明產品功能的品質及可靠性。

品質與符合性資訊

RLE 安裝與對齊
服務及支援瀏覽方塊

服務與重新校正

Renishaw 提供完整的服務選項,可確保維持效能,符合貴公司的品質保證及業務需求。所有雷射光學尺均由本公司技術高超的技術人員維修。除了標準維修外,也針對多種項目提供「換修」(Repair by Exchange, RBE) 裝置,作為符合成本效益的維修選項。

服務資訊

適用於位置與運動控制的編碼器

位置編碼器可採用各種不同的感應技術:Renishaw 的專業在於光學和雷射編碼器系統,從 Renishaw 提供的各種高品質光學、磁性和雷射編碼器中,尋找適合您的運動控制解決方案。

位置與運動控制

附加資源

 

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