Omiń nawigację

Interfejs inLux™ SEM-Raman

Uniwersalne rozwiązanie do analizy SEM-Raman in-situ

Innowacyjny interfejs inLux™ SEM-Raman umożliwia wykonywanie badań ramanowskich w komorze mikroskopu skaningowego mikroskopu elektronowego (SEM). Teraz można zbierać widma Ramana, na podstawie których zostaną utworzone obrazy 2D i 3D, przy jednoczesnym obrazowaniu SEM. Próbka pozostaje nieruchoma między trybami obrazowania SEM i zbierania danych ramanowskich, co daje pewność precyzyjnej lokalizacji wzajemnej podczas porównywania obrazów ramanowskich i obrazów SEM.

Interfejs inLux obsługuje wiele funkcji Ramana. Można zbierać widma z pojedynczych punktów, wielu punktów lub generować konfokalne obrazy ramanowskie 2D i 3D. Interfejs inLux standardowo obsługuje te wszystkie funkcje, umożliwiając analizę objętości większych niż 0,5 mm w każdej osi. Jest wyposażony w enkodery i zapewnia pełną kontrolę położenia, z dokładnością do 50 nm. Dzięki temu uzyskuje się obrazowanie Ramana.

Skontaktuj się z nami

Interfejs inLux SEM Raman

Główne korzyści

  • Bogactwo informacji — analiza Ramana, fotoluminescencji (PL) i katodoluminescencji widmowej (CL) odbywa się jednocześnie i współbieżnie z obrazowaniem SEM.
  • Uniwersalność — interfejs inLux można montować na szerokiej gamie mikroskopów SEM różnych producentów, z różnymi rozmiarami komór i bez konieczności modyfikowania ich konstrukcji.
  • Nieinwazyjność — sondę inLux można całkowicie schować jednym kliknięciem. Dzięki temu nieużywana w danym momencie sonda nie zakłóca innych funkcji mikroskopu SEM ani przebiegu pracy.
  • Określenie rozkładu — konfokalne obrazy ramanowskie można generować standardowo, co umożliwia łatwy pomiar heterogeniczności próbki.
  • Podgląd próbek — optyczne obrazowanie dużych obszarów i ich montaż w celu wizualizacji próbki i wyznaczenia obszarów zainteresowania.
  • Możliwość konfigurowania — do dwóch różnych długości fal wzbudzenia lasera oraz opcjonalny moduł CL.
  • Automatyzacja — przełączanie długości fali lasera jednym kliknięciem w celu analizy ramanowskiej trudnych próbek.

Zastosowania interfejsu inLux

Obraz SEM przedstawiający zanieczyszczenia na wtryskiwaczu paliwa

Identyfikacja zanieczyszczeń

Spektroskopia ramanowska jest bezdotykową i nieniszczącą techniką badawczą, która może dostarczyć informacji o składzie chemicznym o wysokiej swoistości, co czyni ją idealną do identyfikacji zanieczyszczeń. Spektroskopia ramanowska szczególnie nadaje się do analizy zanieczyszczeń organicznych i węglowych, które byłyby trudne do rozróżnienia przy użyciu analizy elementarnej. Mikroskopu SEM można użyć do lokalizowania i badania morfologii małych cząstek zanieczyszczeń, które nie zostaną wykryte przez mikroskop optyczny. Następnie cząstki te można bezpośrednio skierować do analizy ramanowskiej za pomocą interfejsu inLux, bez konieczności przemieszczania próbki.

Więcej informacji na temat zanieczyszczeń

Nałożony obraz SEM-Raman karty identyfikacyjnej

Analiza materiałów

Wiele nowych właściwości materiałów wynika z ich wielkości, kształtu lub grubości. W wypadku grafenu, nanoprętów i nanorurek duże powiększenie skaningowej mikroskopii elektronowej jest niezbędne do wizualizacji próbki. Oprócz ujawnienia chemicznej i strukturalnej natury materiału, analiza ramanowska może również dostarczyć informacji na temat właściwości fizycznych. Interfejs inLux umożliwia tworzenie obrazów ramanowskich ilustrujących krystaliczność, odkształcenie i właściwości elektroniczne, które można skorelować z obrazami uzyskanymi w technice SEM.

Więcej informacji na temat materiałów

Połączenie z różnymi systemami Ramana firmy Renishaw

Interfejsu inLux używa się w połączeniu z spektrometrami ramanowskimi klasy badawczej i oprogramowaniem firmy Renishaw. Zapewnia to wszechstronne możliwości przetwarzania i analizy, a jednocześnie jest intuicyjnie proste w obsłudze. Interfejs inLux pomoże w pełnym wykorzystaniu mikroskopu SEM — od identyfikacji zanieczyszczeń w przemyśle po badania akademickie.

Analizator ramanowski Virsa

Analizator ramanowski Virsa™

W przypadku konkretnej analizy ramanowskiej interfejs inLux można podłączyć do analizatora ramanowskiego Virsa. Analizator Virsa jest niewielkim i ekonomicznym rozwiązaniem przeznaczonym do analizy ramanowskiej in-SEM. Montuje się go w stojaku. Charakteryzuje się wysoką czułością i rozdzielczością widmową oczekiwaną od systemu ramanowskiego klasy badawczej.

Dowiedz się więcej o analizatorze Virsa
Ramanowski mikroskop inVia Qontor

Ramanowski mikroskop konfokalny inVia™

Podłącz interfejs inLux do konfokalnego mikroskopu ramanowskiego inVia, aby dodać analizę in-SEM do najlepiej sprzedającego się na świecie mikroskopu ramanowskiego klasy badawczej. Mikroskop inVia oferuje najlepszą na świecie wydajność i czułość w konfigurowalnym zakresie długości fal wzbudzenia lasera, detektorów i siatek dyfrakcyjnych. Jest idealnym narzędziem do badania materiałów nadających się do analizy ramanowskiej. Mikroskopu inVia można używać niezależnie do analizy ramanowskiej. Skaningowy mikroskop elektronowy SEM może być dostępny dla innych użytkowników, gdy nie są wymagane pomiary in situ.

Dowiedz się więcej o mikroskopie ramanowskim inVia

Dowiedz się więcej

Opowiedz nam o swojej konfiguracji SEM. W ten sposób sprawdzimy, czy posiadany skaningowy mikroskop elektronowy jest zgodny z interfejsem inLux SEM-Raman. Wypełnij krótki formularz, klikając poniższe łącze, a jeden z naszych ekspertów skontaktuje się z Tobą.

Wypełnij formularz

Zarejestruj się teraz, aby obejrzeć całe seminarium internetowe na żądanie

Pliki do pobrania: interfejs inLux SEM-Raman

Dane techniczne

ParametryWartość
Masa< 20 kg
Długość kabla światłowodowego4,6 m
Zgodne spektrometry ramanowskieKonfokalny mikroskop ramanowski inVia, analizator Virsa firmy Renishaw
Zgodne modele SEMZgodność z modelami wszystkich głównych dostawców mikroskopów SEM
Wymagania dotyczące portu SEMWymaga wolnego bocznego lub tylnego portu SEM
Wydajność przetwornika SEMInterfejs inLux nie wymaga żadnych modyfikacji mikroskopu SEM. Nieużywany interfejs można całkowicie schować, dlatego też nie zakłóca działania mikroskopu SEM ani innych akcesoriów.
Sterowanie ruchemGładzik trackpad, oprogramowanie WiRE
Zabezpieczenie przed zetknięciemCzujnik zetknięcia, bezpieczna przestrzeń robocza monitorowana za pomocą enkoderów absolutnych
Bezpieczeństwo pracy z urządzeniami laserowymiLaser połączony z komorą próżniową
Mapowanie/obrazowanie ramanowskieDostarczane jako standard
Dobór modułu światłowodowegoDo dwóch różnych długości fal wzbudzenia lasera oraz opcjonalny moduł katodoluminescencyjny
Dostępne długości fal wzbudzenia lasera405 nm, 532 nm, 660 nm, 785 nm (inne są dostępne na życzenie)
Przełączanie laseraZautomatyzowane, z napędem i sterowane z poziomu oprogramowania
Poprzeczna rozdzielczość przestrzenna< 1 µm przy 532 nm
Wydajność konfokalna< 6 µm przy 532 nm
Rozdzielczość widmowaPatrz arkusz specyfikacji spektrometru
Wymiary804 mm x 257 mm x 215 mm (szer. X wys. X gł.)