光纖雷射編碼器產品
RLU10 可在一小時期間達到 ±50 ppb 雷射頻率穩定性的能力,故對於大多數的「空中」應用而言,RLU10 是非常實用且具成本效益的解決方案。
適用於需要最高量測性能的應用,例如真空應用。RLU20 可在一小時期間達到 ±2 ppb 雷射頻率穩定性。
RLD10-PMI(平面鏡干涉儀)為針對需要平面鏡之應用(如 XY 雙軸平台應用)所配置的雙通系統。
RLD10-RRI(反射鏡干涉儀)為針對需要反射鏡之應用(如更長的距離或更高速的應用)所配置的單通干涉儀。
RLD10 DI(差分干涉儀)是一款雙通干涉儀系統,專為差分量測用途而設計。非常適用於真空製程室應用。
RLD10-XX(無內部干涉儀)檢測頭專為無內部干涉儀光學鏡組所設計,可讓檢測頭依序配合特殊光學鏡組運用,以達成線性、角度或真直度量測。
採用環境感測器監控機器周圍環境,並提供位置回饋訊號的即時補償。
RPI30 接受差動類比 1 Vpp sine/cosine 訊號,以 4096 插入,並以平行格式輸出最多 36 位元的可用位置資料。
接受差分類比 1 Vpp 正弦/餘弦信號,並細分 4096,提供 36 位元平行格式輸出,1 m/s 速度的解析度為 38.6 皮米。
藉由 RLE 系統的 1 Vpp 正弦/餘弦訊號,RLI20-P 提供 Panasonic(MINAS A5 系列)控制器的介面。
RSU10 USB 介面接受 RLE 系統的 1 Vpp 正弦/餘弦信號、細分 16,384,以及透過 USB 埠提供位置讀數。
REE 細分器系列為簡易的「隨插即用」解決方案,提供低階訊號細分,將數位正交輸出信號的解析度增加 20 倍以上。
高反射平面鏡組搭配可輕鬆調整的鏡面固定架,以及最低訊號損失的真空製程室窗口。這類鏡組及光學元件,可為您的雷射編碼器系統達到最高效能。
觀測鏡組增加 RLD10-X3-DI 差分干涉儀量檢測頭的量測,與參考光束之間的偏置。
配合 RLD10-A3-XX 檢測頭時,提供在真空環境內維持完整量測路徑的能力。