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4.13 版功能

Explore：測試探索器介面經過重新設計
全新測試探索器介面可快速篩選測試資料。有了依裝置篩選的選項，現在可以更輕鬆測試資料。

Explore：適用於資料拼接測試的不確定性分析
全新適用於資料拼接測試的不確定性分析可利用圖形呈現不確定的值。此分析功能讓使用者得以更深入瞭解 XM-60 多光束校正儀、XL-80 雷射或 XK10 校準雷射資料拼接測試。

Explore：適用於動態資料擬合測試的不確定性分析
動態資料擬合測試現在新增了不確定性分析功能，讓使用者能夠透過圖形呈現整個測試期間的不確定性，進而更深入瞭解他們使用 XM-60 多光束校正儀擷取的資料。

Capture 應用程式中的離軸旋轉量測模式是一種授權選項，可讓 XR20 無線旋轉軸校正儀結合 XL-80 雷射系統或 XM-60 多光束校正儀，在單一工作階段中擷取離軸量測。

可在使用 XM-60 或 XM-600 多光束校正儀進行真直度量測時，盡可能減少經常出現的空氣擾動及振動效應。動態資料調整模式可在連續掃掠軸的過程中，擷取更高密度的真直度資料。

對接受量測的應用而言，這種方法能夠呈現更具代表性的誤差。

XM-60 或 XM-600 多光束校正儀享有無限的量測範圍。Capture 之中的動態資料調整模式可定義子測試方法、建立工件程式並擷取資料集。子測試資料會自動在 Explore 拼接以便分析。

CARTO Explore 的資料拼接功能可減少長軸量測的雜訊，避免常見的空氣擾動影響。藉由將量測分解成多個小區段，再把它們拼接起來，將能降低對每個區段的環境影響，提升整體量測的準確度。

興趣點通常無法進行量測。其位置可能會妨礙硬體安裝，或阻礙雷射光束。Explore 的偏置讀數功能，可在軟體中輸入接收器與興趣點之間的 X、Y、Z 軸偏差。擷取後的資料將重新計算，以提供來源的真正誤差。

CARTO Explore 全新的分析型資料拼接功能，可讓 XM-60 及 XL-80 雷射系統使用者依據國際標準分析拼接資料。CARTO Explore 新增此項功能之後，就能輕鬆拼接 XM-60 以目標型量測模式擷取的資料，針對較長的軸進行分析。

此外，XL-80 雷射系統使用者在充滿雜訊的量測環境量測較長的軸時，也能利用這項功能將擷取的量測資料分為小段拼接，減少環境對各個區段的影響，提升整體量測的精度。

即使瞭解誤差以及 6 個自由度彼此之間的關係，並不一定能夠輕鬆解讀其中意涵。Explore 提供 3D 誤差視覺化功能搭配曲線圖，可針對量測軸顯示可調整大小的動畫。這樣使用者就能更充分瞭解量測結果，並在誤差視覺化模式中輕鬆展示位置誤差。

您可將單一或多個資料集匯出為逗點分隔值檔案 (CSV)，以便立即存取資料。這樣可讓您享有最高彈性，擴展資料使用選項範圍。

XK10 校準雷射資料目前可在 Explore 之中進行分析，以利資料操作及比較，並提供平行軸真直度功能。其中也可利用客製化 PDF 報告分享資料。

目前支援 Mitsubishi M800 系列控制器。向使用者提供以原生工具機語言編寫的空間補償檔案。盡可能減少停機時間、創造最大利潤，以及實現最理想的切削效能。已支援 Siemens 840D。

目前支援 Heidenhain iTNC 530 及 Fanuc 30i 系列控制器。向使用者提供以原生工具機語言編寫的傾角補償檔案。盡可能減少停機時間、創造最大利潤，以及實現最理想的切削效能。已支援 Siemens 840D 及 Heidenhain TNC 640。

進一步瞭解我們直覺式的 CARTO 軟體和 CARTO 附加元件。輕鬆取得影片、使用指南及下載。

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