光纖雷射編碼器產品

RLU 雷射裝置

RLU10 可在一小時期間達到 ±50 ppb 雷射頻率穩定性的能力，故對於大多數的「空中」應用而言，RLU10 是非常實用且具成本效益的解決方案。

適用於需要最高量測性能的應用，例如真空應用。RLU20 可在一小時期間達到 ±2 ppb 雷射頻率穩定性。

RLD10-PMI（平面鏡干涉儀）為針對需要平面鏡之應用（如 XY 雙軸平台應用）所配置的雙通系統。

RLD10-RRI（反射鏡干涉儀）為針對需要反射鏡之應用（如更長的距離或更高速的應用）所配置的單通干涉儀。

RLD10 DI（差分干涉儀）是一款雙通干涉儀系統，專為差分量測用途而設計。非常適用於真空製程室應用。

RLD10-XX（無內部干涉儀）檢測頭專為無內部干涉儀光學鏡組所設計，可讓檢測頭依序配合特殊光學鏡組運用，以達成線性、角度或真直度量測。

採用環境感測器監控機器周圍環境，並提供位置回饋訊號的即時補償。

RPI30 接受差動類比 1 Vpp sine/cosine 訊號，以 4096 插入，並以平行格式輸出最多 36 位元的可用位置資料。

藉由 RLE 系統的 1 Vpp 正弦／餘弦訊號，RLI20-P 提供 Panasonic（MINAS A5 系列）控制器的介面。

RSU10 USB 介面接受 RLE 系統的 1 Vpp 正弦／餘弦信號、細分 16,384，以及透過 USB 埠提供位置讀數。

高反射平面鏡組搭配可輕鬆調整的鏡面固定架，以及最低訊號損失的真空製程室窗口。這類鏡組及光學元件，可為您的雷射編碼器系統達到最高效能。

觀測鏡組增加 RLD10-X3-DI 差分干涉儀量檢測頭的量測，與參考光束之間的偏置。

配合 RLD10-A3-XX 檢測頭時，提供在真空環境內維持完整量測路徑的能力。

Renishaw 多軸觀測鏡利用 RLD10-X3-DI 干涉儀頭的效能，可在 XY 雙軸平台應用之中進行六個自由度的量測，精確地量測傾角、偏角和側轉角。