RLU - compacte laserunit met glasvezeldoorvoer
Renishaw laserunits combineren de ultieme prestaties van verplaatsingsinterferometers met het installatiegemak van traditionele encoders die werken met een traditionele flexibele of glazen meetschaal.
Het RLE systeem is een uniek, geavanceerd interferometersysteem met homodyne laserdetectie, specifiek ontwikkeld voor positiefeedbacktoepassingen. Elk RLE systeem bestaat uit een RLU laserunit en een of twee RLD10 detectorkoppen, waarvan het model afhankelijk is van de vereisten van de specifieke toepassing.
De RLU10 laserunit is leverbaar in één- of tweeassige configuratie en bevat een Helium-Neon (HeNe) laserbron, stabilisatie-elektronica, een signaalsysteem met optische glasvezel en elektronica voor terugkoppeling van de aspositie.
De RLD detectorkop vormt de kern van het optisch meetsysteem en bevat interferometeroptieken, een uniek meerkanaals interferentiedetectiesysteem en bundelrichtmechanismen. Renishaw biedt drie interferometerconfiguraties (RLD10 vlakke spiegel, RLD10 retroreflector en RLD differentieel) en een RLD10 niet-interne interferometer.
Kenmerken en voordelen
Combineer de RLU10 of RLU20 laser met RLD detectorkoppen voor uw toepassing en verkrijg:
- Eenvoudige systeemarchitectuur - op basis van Renishaw's unieke glasvezeluitvoersysteem
- Snelle uitlijning - RLD detectorkoppen maken het mogelijk om de lasers direct op de meetas te monteren
- Compact en gemakkelijk te installeren - bij minimale systeem-footprint en installatietijd
Met de encoders van Renishaw overtreffen we steeds weer de specificaties van klanten. We proberen onze klanten de beste ervaring in deze klasse te geven, en we schrijven ons voortdurende succes deels toe aan de technologische vooruitgang die bedrijven als Renishaw bieden.
Aerotech (VS)
RLU10 laser
De RLU10 laser biedt een laserfrequentiestabiliteit van ± 50 ppb gedurende één uur, met prestatieniveaus die geschikt zijn voor de meeste 'in air' toepassingen.
RLU10 overzicht
| Glasvezellengten | 3 m of 6 m* |
| Aantal assen | Enkel of dubbel* |
| Laserbron | Klasse 2 HeNe |
| Uitvoer | Analoge / digitale kwadratuur |
| Snelheden | Tot 2 m/s** |
* Geconfigureerd af fabriek
** Afhankelijk van versie / resolutie
RLU10 prestaties
Laserfrequentiestabiliteit (1 minuut) | ‹± 10 ppb |
Laserfrequentiestabiliteit (1 uur) | ‹± 50 ppb |
Laserfrequentiestabiliteit (8 uur) | ‹± 50 ppb |
Stabiliteit vacuüm golflengte (langer dan 3 jaar) | ± 0,1 ppm |
XY-fase toepassing
Zoekt u een laserencoder voor toepassing op een XY-tafel in een 'in air' omgeving? De RLE10-DX-XG wordt vaak gekozen voor dit soort toepassingen, waarbij onze RLU10 laser wordt gecombineerd met twee stuks RLD10-A3-P9 (RLD10 interferometers met vlakke spiegel).
RLU20 laser
De RLU20 biedt een laserfrequentiestabiliteit van ± 2 ppb gedurende elke periode van één uur en levert ultieme meetprestaties in de meeste vacuümtoepassingen.
RLU20 overzicht
| Glasvezellengten | alleen 3 m* |
| Aantal assen | Enkel of dubbel* |
| Laserbron | Klasse 2 HeNe |
| Uitvoer | Analoog / digitaal |
| Snelheden | Tot 2 m/s** |
* Geconfigureerd af fabriek
** Afhankelijk van versie / resolutie
RLU20 prestaties
| Laserfrequentiestabiliteit (1 minuut) | ‹± 1 ppb |
| Laserfrequentiestabiliteit (1 uur) | ‹± 2 ppb |
| Laserfrequentiestabiliteit (8 uur) | ‹± 20 ppb |
| Stabiliteit vacuüm golflengte (langer dan 3 jaar) | ± 0,1 ppm |
Verschillenmeting
Zoekt u een geschikte laserencoder voor verschillenmeting in een vacuümomgeving? Het RLE20-DX-XP systeem wordt vaak gekozen voor dit soort toepassingen, waarbij onze RLU20 laser wordt gecombineerd met twee RLD10-X3-DI differentiële interferometers.
Een RLE systeem configureren
Voor gebruik als verplaatsingsinterferometer moet de Renishaws laserunit worden voorzien van een geschikte kop voor de toepassing. U kunt de volgende opties overwegen als u uw RLE systeem samenstelt:
- Laserbron (RLU10 of RLU20)
- Glasvezellengte 3 m of 6 m (alleen RLE10)
- Kalibratiecertificaat (optie tegen meerprijs)
- Optisch doel vlakke spiegel of retroreflector
- RLD-type detectorkop voor elke as
- Bundeloriëntatie voor elke as (niet van toepassing bij differentiële interferometer)
Identificeer met onze RLE10 artikelnummergenerator het systeem dat bij uw toepassing past, en gebruik het nummer om een offerte aan te vragen of een bestelling te plaatsen.
Veelgestelde vragen
Wat is de hoogste resolutie die te bereiken is met een RLE systeem?
Als u het RLE systeem combineert met de RPI30 parallelle interface, dan is het mogelijk een resolutie te behalen van 38,6 picometer bij 1 m/s.
Kan ik voor mijn RLE systeem een kalibratiecertificaat verkrijgen?
Ja, u kunt dat aangeven wanneer u een nieuw systeem bestelt. Houdt u wel rekening met extra kosten voor deze dienstverlening.
Kan ik in mijn toepassing beter een vlakke spiegel of een retro-reflector gebruiken als doel?
De keuze van het doel hangt af van de soort toepassing, want beide hebben hun eigen voordelen. Een vlakke spiegel is geschikter voor toepassingen op een XY-tafel. Retro-reflectoren zijn minder gevoelig voor hoekrotatie dan vlakke spiegels en worden vooral gebruikt op lineaire assen.
Welke spiegels adviseert Renishaw voor gebruik met het RLE systeem?
Renishaw biedt een reeks van spiegels en optieken voor uw toepassing. Ons datablad voor vlakke spiegels en spiegelhouders geeft u informatie om een passende spiegel uit te zoeken.
Andere hulpbronnen
-
Data sheet: RLU10 laser unit [en]
-
Data sheet: RLU20 laser unit [en]
-
Data sheet: RLE system performance [en]
-
Case study: VAD Instrument chooses Renishaw’s UHV optical encoders for motion platforms [en]
-
Case study: Encoders hold the key to ultra-accurate motion control [en]
-
Case study: RLE20 interferometer enhances performance of Raith’s latest e-beam tool [en]
-
Data sheet: Traceability chart: RCU10, XC-80, RLE and HS20 [en]
Neem vandaag nog contact op met ons verkoopteam
Neem contact op met uw plaatselijke leverancier voor meer informatie en een gesprek met een expert.