Hybridní Ramanův systém
Zvyšte možnosti Ramanova mikroskopu Renishaw propojením s dalšími analytickými systémy ze široké nabídky dalších výrobců.
Díky korelativním systémům mikroskopů Renishaw si můžete být jisti, že analyzujete tentýž bod oběma technikami.
Kontaktujte nás
SPM/AFM: Nanometrické rozlišení
Zkombinujte Ramanův mikroskop inVia™ se skenovacím mikroskopem (SPM), jako například s mikroskopem atomárních sil (AFM), pro zkoumání chemických a strukturálních vlastností materiálů. Doplňte systém o chemickou analýzu s nanometrickým rozlišením pomocí hrotem zesílené Ramanovy spektroskopie (TERS) a odhalte komplementární vlastnosti, jako jsou mechanické charakteristiky.
Nanovtlačování: měření mechanických vlastností
Kombinace výkonu Ramanova mikroskopu inVia s měřením pomocí nanovtlačování a přímá korelace mechanických a tribologických vlastností s chemickými informacemi, jako je krystaličnost, polymorfismus, fáze a zatížení.
Přečtěte si články z časopisu Microscopy and Analysis Journal
-
Correlative SPM Raman and SEM analysis of biomedical devices and coatings [en]
A variety of medical implants and microelectrode arrays for electrophysiology are fabricated in thin film and micro technology. To guarantee the quality, proper functionality and safe operation of these devices, analytical techniques to investigate the structure and chemical composition of surfaces and interfaces during the fabrication process and for final quality control are essential.
Chcete se dozvědět více?
Náš místní zástupce rád odpoví na vaše dotazy.
Můžete nás kontaktovat vyplněním formuláře nebo zasláním emailu.
Získejte naše nejnovější aktualizace.
Udržujte si aktuální přehled o našich nejnovějších akcích, webových seminářích, poznámkách k aplikacím a uvádění nových produktů.