個案研究： 光學尺加速 PCB 阻抗驗證 (pdf)

電路載板的日趨微形化促使相關檢測設備的精確度需要不斷提昇，一般電路板的外觀，斷線，和短路等缺陷均透過自動視覺檢測 (AOI) 設備進行非接觸式檢測，而電路載板上線路的阻抗 (Impedance) 則需要透過專屬抗阻檢測設備，根據編程控制測頭準確落在檢測點採集數據。韓國運動控制方案供應商Sam-Jeong Automation多年來開發眾多客制化的半導體和面板相關制程設備和零部件，他們開發的載板阻抗檢測設備，搭配Renishaw TONiC系列光學尺系統，實現穩定可靠的性能表現。