Novedades: El láser de alineación XK10 aumenta la precisión de medición de paralelismo para fabricantes de Máquina-Herramienta (docx)
File size: 50 kB
Language: Español
El nuevo kit de paralelismo XK de Renishaw es un innovador método de medición de paralelismo para el sistema láser de alineación XK10. Permite medir la desviación de rectitud de punto a punto o el desajuste angular total entre dos ejes nominalmente paralelos
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