新聞稿： XK10 校準雷射系統幫助工具機製造商提高平行度量測精度 (docx)
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Language: 中文（繁體）
Renishaw 推出全新 XK 平行度套件，提供了一種使用 XK10 校準雷射系統量測平行度的創新方法。用戶可以在兩個名義上平行的軸體之間量測點對點的真直度偏差，或兩個平行軸體之間的角度偏差。
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